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掃描電鏡圖像分割和特征提取方法

掃描電鏡圖像分割和特征提取是圖像處理領(lǐng)域的重要任務(wù)之一。

掃描電鏡圖像的圖像配準和校正是在掃描電鏡圖像中消除畸變和對齊圖像的過程。

掃描電子顯微鏡（SEM）是一種常用的工具，用于對納米結(jié)構(gòu)進行成像和表征。

掃描電子顯微鏡（SEM）適用于廣泛的樣品類型，包括但不限于以下幾種：

臺式掃描電鏡（SEM）在進行樣品觀察之前通常需要進行一定程度的樣品制備。

在臺式掃描電鏡（SEM）圖像中，偽影是指在成像過程中出現(xiàn)的不真實或失真的特征，可能會干擾對樣品的正確解釋和分析。

臺式掃描電鏡（SEM）和傳統(tǒng)顯微鏡之間存在多個關(guān)鍵的區(qū)別，包括以下幾個方面：

臺式掃描電鏡（SEM）具有多種成像模式，以下是其中常見的幾種：