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樣品表面處理對(duì)掃描電鏡圖像有何影響？

樣品表面處理對(duì)掃描電鏡（SEM）圖像有很大影響，因?yàn)镾EM主要通過(guò)與樣品表面的相互作用來(lái)生成圖像。

掃描電鏡（SEM）圖像中的三維效應(yīng)是通過(guò)以下方式實(shí)現(xiàn)的：

掃描電鏡中的樣品表面充電效應(yīng)是一個(gè)常見問(wèn)題，但可以通過(guò)以下方法來(lái)減輕或避免：

掃描電鏡對(duì)樣品的大小和厚度通常有一定的限制。這些限制取決于具體的掃描電鏡型號(hào)和配置。

樣品桿通常用于在科學(xué)實(shí)驗(yàn)室中攜帶和處理樣品，例如在掃描電子顯微鏡（SEM）或透射電子顯微鏡（TEM）中。

掃描電子顯微鏡（SEM）主要用于觀察表面形貌和微觀結(jié)構(gòu)，特別是對(duì)于那些無(wú)法被光學(xué)顯微鏡所分辨的微小結(jié)構(gòu)提供了高分辨率的圖像。

掃描電鏡圖像中的偽影可能由于多種因素導(dǎo)致，這些因素包括樣本準(zhǔn)備、電鏡操作、圖像獲取和處理等。

掃描電鏡（SEM）通常用于獲取高分辨率的表面形貌圖像，但它本身并不提供深度信息。