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掃描電鏡的深度探針是什么？在什么情況下使用？

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，深度探針是指電子束在樣本表面掃描期間所能達(dá)到的深度范圍。

掃描電子顯微鏡（SEM）的工作距離是指樣本表面到電子透鏡（或稱為物鏡）的距離。

掃描電子顯微鏡（SEM）的樣品鍍膜是在需要觀察的樣本表面覆蓋一層薄膜，通常是金屬薄膜，以改善樣本在SEM中的成像性能。

在臺(tái)式掃描電鏡（SEM）中，樣品表面充電問(wèn)題是一個(gè)常見(jiàn)的挑戰(zhàn)，可能會(huì)導(dǎo)致圖像質(zhì)量下降、分析誤差等。

臺(tái)式掃描電鏡（SEM）是一種強(qiáng)大的顯微鏡，可以用于高分辨率的表面成像和分析。

在臺(tái)式掃描電鏡（SEM）中實(shí)現(xiàn)三維表面重建是一項(xiàng)復(fù)雜的任務(wù)，通常涉及圖像采集、圖像處理和三維重建等多個(gè)步驟。

利用臺(tái)式掃描電鏡（SEM）進(jìn)行金屬結(jié)構(gòu)和表面分析可以揭示金屬材料的微觀結(jié)構(gòu)、形貌特征以及表面成分分布。

處理和觀察非導(dǎo)電樣品是掃描電鏡（SEM）分析中的一個(gè)常見(jiàn)挑戰(zhàn)，因?yàn)榉菍?dǎo)電材料會(huì)產(chǎn)生充電效應(yīng)，導(dǎo)致圖像質(zhì)量下降。