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掃描電鏡中的透射電子探測器是如何工作的？

透射電子探測器是一種用于掃描透射電子顯微鏡的探測器。

臺式掃描電鏡的分辨率通常在納米級別或亞納米級別。具體的分辨率取決于掃描電鏡的型號和制造商，不同的設備可能具有不同的分辨率規(guī)格。

在掃描電鏡中，如果樣品沒有進行金屬噴鍍或其他導電處理，可能會出現(xiàn)以下效果：

掃描電鏡對樣品的導電性有一定的要求。由于SEM使用電子束來觀察樣品表面，樣品的導電性對于獲取清晰的圖像和準確的表面形貌信息非常重要。

掃描電鏡的掃描速度與圖像分辨率之間存在一定的關系。

掃描電子顯微鏡（SEM）的深度焦點是指在一定的焦距范圍內(nèi)，樣品不同位置的表面能夠同時保持清晰的能力。

樣品制備在掃描電子顯微鏡（SEM）中對結果有重要影響。適當?shù)臉悠分苽浞椒梢源_保樣品表面的平整度、形貌和結構保持完整，并提供清晰的顯微圖像。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，可以通過以下步驟計算樣品的實際大小：