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如何處理掃描電鏡中的低真空問題

在掃描電鏡（SEM）中，低真空問題可能會導致圖像質量下降或樣品受損。

在掃描電鏡（SEM）中觀察樣品時，樣品的導電性是一個重要考慮因素。

掃描電鏡（SEM）實現(xiàn)高分辨率圖像主要依賴于以下幾個關鍵因素：

掃描電鏡的分辨率和放大倍數(shù)可以非常高，具體取決于儀器的型號和性能。

在準備樣品以在掃描電鏡中觀察時，需要遵循一些基本步驟。

臺式掃描電鏡中的電子束是通過以下步驟生成的：

臺式掃描電鏡之所以能夠提供高分辨率圖像，是因為它采用了電子束作為成像工具，相比傳統(tǒng)光學顯微鏡的光束，電子束具有較短的波長，從而克服了光學顯微鏡的分辨率限制。

在臺式掃描電鏡中，可能會遇到一些常見的圖像問題和故障。